设备介绍
日立 U-4100紫外/可见/近红外分光光度计产品详情
半导体、光学元件、新型材料的光谱性能研究,是功能zui强劲的分光光度系统。
高性能的固体,液体,浑浊样品测试系统。
透射,镜面反射和漫反射都可测试。
使用**大样品舱,样品zui大可至430 x 430mm,大型样品测试也*破坏。
紫外区zui低可测至175nm。
有四种系统可选:
1) U4100固体样品测量系统(240-2600nm)
2) U4100大样品测量系统(240-2600nm)
3) U4100紫外区高灵敏度测量系统(175-2600nm)
4) U4100液体样品测量系统(185-3300nm)
注意:在发货以后,各系统之间无法通过升级实现转换。如果您有特殊需要,可联络当地销售工程师提供定制服务。
日立 U-4100紫外/可见/近红外分光光度计固体样品测试系统
积分球标准配置适合于固体样品的全透射、正透射、漫透射、全反射、漫反射以及角度依赖的透射。不同的测试目的可能要选用不同的测试附件,丰富的附件可使系统更满足您的工作需求。也适用于液体样品的测试。
U4100大样品测量系统 (240-2600nm)
积分球标准配置适合于固体样品的全透射、正透射、漫透射、全反射、漫反射以及角度依赖的透射。拥有**大样品仓,对于大型样品的透射/反射测量非常方便,比如玻璃板材,单晶硅片,液晶板,激光晶体,透镜组等**大,**长样品都可进行无破坏检测。也适用于液体样品的测试。可扩展附件用于角度依赖漫透射角度依赖漫反射测量。
U4100紫外区高灵敏度测量系统
此系统采用的光源、单色器和检测器都是经过特别设计和选择,适合应用于紫外区的光谱研究,特别是175-190nm这个区域有很好的光学性能。可测试那些应用在紫外光谱区的光学部件样品。
注意:高灵敏度积分球为双孔积分球,可特别定制4孔积分球,请提前联络。
U4100通用型测试系统
采用光束直接入射检测器方式,扩宽了测定的波长范围。装配标准10mm直角液体池,用于液体样品的透过率和吸光度的测定。也可选配积分球附件用于固体样品测试。
设备图片
二手设备清单
二手机械库存明细
双面抛光机系列:
日本:hamai16B speedfam16B 21B 28B 30B 40B 双面抛光研磨机
德国:Peter Wolters 319/320系列双端面抛光机
国产:金研/宇晶9.6B 9S 9B 13B 15B 16B 20B
镀膜机械系列:
日本:光弛OTFC-1300/1550/2350
德国:莱宝:1300
闽台:龙翩LP-1400/1650/1800
韩国:韩一 1200 联合2050
南光:1100/1300
检测仪器:
日本岛津:1900/2401/2550/3700分光光度计
日 立 :2900/4000/4001/4150 光谱仪
二次元/三次元(2010/3020/4030.......)
一批二手仿形机120/175MM
一批无尘洁净台2.44*1.2*1.95米
一批10-13槽半自动超声波清洗机