【原装】泰克TektronixDMM4050六位半台式数字万用表
型 号:DMM4040
名 称:数字万用表
品 牌:泰克(Tektronix)
分 类:通用电子测试 > 数字万用表 > 台式万用表
产品属性:主机
简 述:泰克DMM4050和DMM4040万用表提供了6.5位分辨率,可以以0.0024%的基本V DC准确度测量电压、电阻和电流。频率、周期、电容和温度集成测量功能意味着您可以使用一台仪器进行多种测量。
多功能测量工具
泰克DMM4050和DMM4040万用表提供了6.5位分辨率,可以以0.0024%的基本V DC准确度测量电压、电阻和电流。频率、周期、电容和温度集成测量功能意味着您可以使用一台仪器进行多种测量。您还可以监测和记录测量指标在测量期间的变化或环境范围,查看统计值,了解电路性能变化。此外,前面板按钮可以快速进入常用功能和参数,缩短设置时间。DMM4050/4040万用表为您苛刻的测量提供了多功能工具和所需的准确度。
型号 | 分辨率位数 | 基本VDC准确度 | 测量项目 |
---|---|---|---|
DMM4040 | 6.5 | 0.0035% | V ac, V dc, I ac, I dc, Ω, Cont, 二极管, 频率, 周期 |
DMM4050 | 6.5 | 0.0024% | V ac, V dc, I ac, I dc, Ω, Cont, 二极管, 频率, 周期, 温度, 电容 |
功能 | 优点 |
6.5位分辨率 | 地测量电压、电阻和电流。 |
频率, 周期, 电容*和温度*测量 | 用一台多功能仪器代替多功能DMM、计数器、电容表和温度计,节约和工作台空间。 |
分开端子插孔 | 只使用两条引线,进行的4线电阻测量。 |
Trendplot 无纸化记录器模式 | 绘制测量趋势,以图形方式确定漂移程度和间歇性事件。 |
直方图模式 | 作为直方图查看结果,发现稳定性或噪声问题。 |
统计模式 | 查看多个统计值,如平均值、小值、值和标准偏差,了解信号变化。 |
双显示器 | 从一组测试表笔,测量同一信号的两个不同参数。 |
每种功能一个键 | 前面板按钮,进入常用功能和参数,缩短设置和评估时间。 |
USB主机端口 | 使用前面板端口,方便地把数据和用户设置存储到USB存储设备上。 |
三年保修 | 标配业内的三年保修,减少拥有。 |
PC连接 | 使用多个接口端口,简便地连接个人电脑; 使用NI LabVIEW SignalExpress软件控制DMM,记录数据,简化测量结果传送和存档工作。了解更多:泰克连通工作台,实现智能调试 |
* 这些特点只在DMM4050上提供。
主要特点和优点
主要性能指标
6.5 位分辨率
高达0.0024% 的基本VDC 准确度 (1 年)
100 mV - 1000 V 电压量程,高达100 nV 分辨率
100 μA - 10 A 电流量程,高达100 pA 分辨率
10Ω - 1 GΩ 电阻量程,高达10 μΩ 分辨率
CAT I 1000 V,CAT II 600 V
提供的功能和特点
电压、电阻和电流测量
二极管和通断测试
频率和周期测量
温度和电容测量(DMM4050)
2 × 4 欧姆4 线测量技术
TrendPlotTM 无纸化数据记录器模式
测量统计
直方图模式
连接能力
前面和后面2 × 4 个测量输入
前面板USB 主机端口,轻松存储测量数据
后面板RS-232、LAN 和GPIB,快速连接PC
包括USB 到RS-232 接口适配器电缆
包括National Instrument 的LabVIEW SignalExpressTMTE限定版,用来连通其它台式设备
多功能测量工具
随着嵌入式系统中的电路日益完善、需要的容限日益紧张,您 必须以非常高的准确度测量不同的参数,验证设计。泰克 DMM4050 和DMM4040 6.5 位台式万用表把多种不同的功能 和分析能力融合到一台仪器中,并提供了**的准确度和性能。
泰克DMM4050 和DMM4040 万用表的基本VDC 准确度高达 0.0024%,分辨率100 pA 和10 μΩ,可以完成典型的万用表 测量,为当前苛刻的设计提供所需的性能。您还可以使用 DMM4050/4040 测量频率和周期,执行通断测试和二极管测 试。如果您需要更高的灵活性,DMM4050 还提供了温度测量 功能和电容测量功能。您可以用一台多功能仪器代替温度计、 电容表、计数器、通断测试仪和传统DMM,节约工作台空间 和。
使用图形显示模式分析被测设备
通过DMM4050/4040 的双显示器,您可以使用一组测试 表笔,测量同一信号的两个不同参数。为揭示漂移、间歇性瞬 态信号和稳定性等信号质量问题,您可以使用DMM4050/4040 的图形显示模式,作为实时趋势图或直方图查看数据,也可以 使用测量统计功能,跟踪信号参数随时间变化。